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Mots clés: rugosimètre

Nom Description Compagnie
Altisurf 50
Altisurf 50
Système de mesure, conçu pour mesurer l’états de surface, profondeur de gravure et la planéité.

- Spécifications type : 0,5µ/50mm, poids: inf. 3 kgs
- Échelle de mesure de 130 µm à 3.5 mm
- Tables croisées modulaires de faible encombrement
- Capteur optique confocal chromatique 1Khz sur bus ou 4 Khz
- Logiciel AltiSurf50
Altisurf 520 Twin
Altisurf 520 Twin
Système de mesure, conçu pour analyser les états de surface et formes. Idéal pour les mesures de papier- emballage, sidérurgie, feuillards tous matériaux.

- Spécifications : Max.f.dév. à h=200mm inf. à 4µ/100mm
- Mesure multisonde double-face
- Multi-voies optiques 3 mm, 300µ, CCD
- Axes motorisés cc
i-Dex P
i-Dex P
Système de mesure sans contact de la plénitude , la concentricité et la rugosité de surface jusqu’a
Rz = 0.5 micron

•Capteur : StraDex p/f
•Diamètre Max. : 220 mm
•Vitese Max : 50 mm/s
•Répétitivité : 200 nm
BW-H501
BW-H501
Pour l’inspection et le profilage 3D de surface, rapide et de haute précision.
Utilisant l’interférométrie à lumière blanche et une nouvelle méthode de cyclage de franges avec caméra a haute vitesse (900 i/sec).

•Précision de 10 nm utilisant l’interférométrie a lumière blanche
•Mesure sur des surfaces optiquement diffues
•Temps de mesure : 0.2 sec/champ
•Échelle de mesure : 40 μm
•Logiciel de contrôle d’image en temps réel – BridgeElements
ECLIPSE 80i / 90i
ECLIPSE 80i / 90i
Microscope avec imagerie digitale pour la recherche et la documentation offert en version a tète motorisée.

•Système d’optique : CFI60
•Lentille de type « Fly-eye » offrant une illumination uniforme
•Lentilles : 10X, 10X M, 12.5X, 15X, UW10X, UW 10X M
•Magnification : 10 –1500X
•Objective avec correction chromatique de la périphérie permettant le rapiéçage d’images.
ECLIPSE C1 Plus
ECLIPSE C1 Plus
Système modulaire de microscopie confocal laser dans un design ultra-compact incorporant un scanner bidirectionnel optimisant l’acquisition d’image. Des options de contrôle laser permetant de contrôler son intensité.

•Type de laser : V-LD; Ar, Multi-Ar, G-HeNe, Y-HeNe, R-HeNe
•Canal : 3 canaux fluorescence + 1 canal DIC
•Détection a 3 canaux simultanés,
•Support de presque toutes les techniques d’imagerie
•Contrôle motorisé de distance focal à 50nm
•Vitesse de scan : 3 I/ sec
ECLIPSE C1si
ECLIPSE C1si
Système de microscopie laser confocal pour l’imagerie spectrale quantitative offrant une grande bande de détection ainsi qu’une trés haute résolution spectrale.

•Précision : 160 x 160 à 2048 x 2048 pixels
•Bande spectrale : 400-750 nm
•Temps de scan : 1.68 μs/pixel
•Mode de scan : 2D / 3D / 4D
•Nombre de canaux : 32
MicroMesure
MicroMesure
Station de mesure optique 3D sans contact pour des applications de microtopographie, de rugosimétrie, de contrôle qualité d'usinages de précision, d'analyses de formes et de textures, de caractérisation de surfaces et de métrologie dimensionelle.
Micromesure 2
Micromesure 2
Station de mesure Optique 3D sans contact. Grande dynamique de mesure de 20 microns a 10 mm. Equipée de sélecteur automatique de capteurs et un logiciel d'une grande richesse fonctionelle.
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