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Analyse de forme
Nom Description Compagnie
Altisurf 520 Round RT
Altisurf 520 Round RT
Système de mesure, conçu pour analyser les états de surface et formes. Cycles circonférentiels, cycles axiaux, topographie 3D, défectologie.

- Spécifications : plus/moins 360°, rés.10-3°, 80°/sec, voilage plus/moins 12,5µrad, Pt.
type spec: 0,4µ/50mm, capa Ra type: 0,04µ…
- Plateau rotatif et table croisée
- Capteurs mécaniques 2µ et petit alésage
- Capteur optique confocal chromatique optionnel
- 5 axes motorisés cc
i-Dex f
i-Dex f
Système pour les mesures tri-dimensionnelles de pièces cylindriques, il incorpore des capteurs uniques
RayDex et StraDex qui permettent la prise de mesure sans-contact des espaces internes et la géométrie externes des pièces.

•Échelle de diamètre interne : 1.2 mm – 80 mm
•Longueur de l’objet : jusqu'à 200 mm
•Vitesse axiale d’inspection : 10 mm/s
•Répétitivité de la mesure d’épaisseur: 200 nm
i-Dex R
i-Dex R
Système pour les mesures tri-dimensionnelles de pièces cylindriques, il incorpore des capteurs uniques
RayDex et StraDex qui permettent la prise de mesure sans-contact des espaces internes et la géométrie externes des pièces pour extraire les paramètres tels que diamètre, concentricité, ovalité et rugosité.

•Capteur : RayDex , StraDex p
•Diamètre interne mesuré: 0.9 – 54 mm
•Profondeur des espace internes mesurée : jusqu'à 48mm
•Répétitivité : 200 nm
i-Dex t
i-Dex t
Système pour les mesures tri-dimensionnelles de pièces cylindriques, il incorpore des capteurs uniques
RayDex et StraDex qui permettent la prise de mesure sans-contact des espaces internes et la géométrie externes des pièces pour extraire les paramètres tels que diamètre, concentricité, ovalité et rugosité.

•Capteur : RayDex, StraDex f
•Échelle de diamètre interne : 1.2 mm – 80 mm dans 4 échelles
•Profondeur Max. interne : 50 mm / 200 mm
•Vitesse axiale : 10 mm/s
•Répétitivité : 200 nm
reflectCONTROL
reflectCONTROL
Robotic :
Pour le contrôle qualité de composants de grande taille ou de carrosseries automobiles intégrales. Monté sur un robot, l’appareil de mesure contrôle, pas à pas, la surface intégrale de l’objet de mesure. Ce modèle offre les possibilités d’utilisation les plus flexibles et est également conçu pour une utilisation en ligne.
•Idéal pour les composants complexes
•Interface utilisateur intuitive
•Possibilité d’utiliser plusieurs robots à la fois
•Unité automatique de détection des défauts possible

Contact :
Pour les objets dont la taille équivaut au format DIN A4, RC robotic est utilisé pour détecter avec fiabilité les défauts sur les surfaces réfléchissantes. Selon l’objet et les exigences, il est possible d’alimenter la station de mesure automatiquement ou manuellement.
•Pour objets de mesure de taille inférieure au format DIN A4
•Possibilité de basculer la table de mesure jusqu’à 3 axes
•Dimensions variables pour objets de mesure de grande taille
•Installation sécurisée via barrière immatérielle
Station MICROMESURE
Station MICROMESURE
MICROMESURE est une station de mesure modulaire dédiée à la microtopographie 3D haute résolution ainsi qu'à l'analyse de formes et de textures. Elle permet de mesurer des profils ou des surfaces d'objets, ainsi que des épaisseurs de matériaux transparents.

Analyse de surface
Nom Description Compagnie
Altisurf 50
Altisurf 50
Système de mesure, conçu pour mesurer l’états de surface, profondeur de gravure et la planéité.

- Spécifications type : 0,5µ/50mm, poids: inf. 3 kgs
- Échelle de mesure de 130 µm à 3.5 mm
- Tables croisées modulaires de faible encombrement
- Capteur optique confocal chromatique 1Khz sur bus ou 4 Khz
- Logiciel AltiSurf50
Altisurf 520 Twin
Altisurf 520 Twin
Système de mesure, conçu pour analyser les états de surface et formes. Idéal pour les mesures de papier- emballage, sidérurgie, feuillards tous matériaux.

- Spécifications : Max.f.dév. à h=200mm inf. à 4µ/100mm
- Mesure multisonde double-face
- Multi-voies optiques 3 mm, 300µ, CCD
- Axes motorisés cc
i-Dex P
i-Dex P
Système de mesure sans contact de la plénitude , la concentricité et la rugosité de surface jusqu’a
Rz = 0.5 micron

•Capteur : StraDex p/f
•Diamètre Max. : 220 mm
•Vitese Max : 50 mm/s
•Répétitivité : 200 nm
BW-H501
BW-H501
Pour l’inspection et le profilage 3D de surface, rapide et de haute précision.
Utilisant l’interférométrie à lumière blanche et une nouvelle méthode de cyclage de franges avec caméra a haute vitesse (900 i/sec).

•Précision de 10 nm utilisant l’interférométrie a lumière blanche
•Mesure sur des surfaces optiquement diffues
•Temps de mesure : 0.2 sec/champ
•Échelle de mesure : 40 μm
•Logiciel de contrôle d’image en temps réel – BridgeElements
ECLIPSE 80i / 90i
ECLIPSE 80i / 90i
Microscope avec imagerie digitale pour la recherche et la documentation offert en version a tète motorisée.

•Système d’optique : CFI60
•Lentille de type « Fly-eye » offrant une illumination uniforme
•Lentilles : 10X, 10X M, 12.5X, 15X, UW10X, UW 10X M
•Magnification : 10 –1500X
•Objective avec correction chromatique de la périphérie permettant le rapiéçage d’images.
ECLIPSE C1 Plus
ECLIPSE C1 Plus
Système modulaire de microscopie confocal laser dans un design ultra-compact incorporant un scanner bidirectionnel optimisant l’acquisition d’image. Des options de contrôle laser permetant de contrôler son intensité.

•Type de laser : V-LD; Ar, Multi-Ar, G-HeNe, Y-HeNe, R-HeNe
•Canal : 3 canaux fluorescence + 1 canal DIC
•Détection a 3 canaux simultanés,
•Support de presque toutes les techniques d’imagerie
•Contrôle motorisé de distance focal à 50nm
•Vitesse de scan : 3 I/ sec
ECLIPSE C1si
ECLIPSE C1si
Système de microscopie laser confocal pour l’imagerie spectrale quantitative offrant une grande bande de détection ainsi qu’une trés haute résolution spectrale.

•Précision : 160 x 160 à 2048 x 2048 pixels
•Bande spectrale : 400-750 nm
•Temps de scan : 1.68 μs/pixel
•Mode de scan : 2D / 3D / 4D
•Nombre de canaux : 32
MicroMesure
MicroMesure
Station de mesure optique 3D sans contact pour des applications de microtopographie, de rugosimétrie, de contrôle qualité d'usinages de précision, d'analyses de formes et de textures, de caractérisation de surfaces et de métrologie dimensionelle.
Micromesure 2
Micromesure 2
Station de mesure Optique 3D sans contact. Grande dynamique de mesure de 20 microns a 10 mm. Equipée de sélecteur automatique de capteurs et un logiciel d'une grande richesse fonctionelle.

Mesure 3D Métrologie
Nom Description Compagnie
Altisurf 100
Altisurf 100
- Profilomètre de course 100mm
- Sondes embarquées indexées
- Jusqu’à 2 axes motorisés : XZ
- Codeurs 0,1µm
- Correction non-linéaire des axes
- Calibration de l’hystérésis
- Logiciel sous Windows XP
AltiSurf 500
AltiSurf 500
Système de multi sonde, conçu pour analyser la surface de composant, étudier la reconstruction morphologique de l’échantillon.

- Plateforme de métrologie modulaire 100X100X100mm
- Spécifications - type : 2nm/mm, sigma/step inf. 3nm
- Jusqu’à 5 sondes embarquées indexées
- Jusqu’à 4 axes motorisés cc: XYZW
- Codeurs 0,1µm
- Correction non-linéaire des axes
Altisurf 520
Altisurf 520
Topographie de surface grande capacité, multi- sonde. Un logiciel de traitement arrière lui permet d’analyser la rugosité, la tribologie ainsi que le phénomène topographique.

- Plateforme de métrologie modulaire 200X200X200mm
- Spécifications - type : mfd 2nm/mm, sigma/step inf. 3nm
- Jusqu’à 5 sondes embarquées indexées
- Jusqu’à 4 axes motorisés cc: XYZW
- Codeurs 0,1µm
- Correction non-linéaire des axes
Altisurf 520 Round RT
Altisurf 520 Round RT
Système de mesure, conçu pour analyser les états de surface et formes. Cycles circonférentiels, cycles axiaux, topographie 3D, défectologie.

- Spécifications : plus/moins 360°, rés.10-3°, 80°/sec, voilage plus/moins 12,5µrad, Pt.
type spec: 0,4µ/50mm, capa Ra type: 0,04µ…
- Plateau rotatif et table croisée
- Capteurs mécaniques 2µ et petit alésage
- Capteur optique confocal chromatique optionnel
- 5 axes motorisés cc
Altisurf 520 Twin
Altisurf 520 Twin
Système de mesure, conçu pour analyser les états de surface et formes. Idéal pour les mesures de papier- emballage, sidérurgie, feuillards tous matériaux.

- Spécifications : Max.f.dév. à h=200mm inf. à 4µ/100mm
- Mesure multisonde double-face
- Multi-voies optiques 3 mm, 300µ, CCD
- Axes motorisés cc
ATOS
ATOS
Digitalisation 3D sans contact. Créer des modèles CAO ou STL. Remonter les modifications effectuées sur une maquette en CAO. La création de parcours d'outil pour l'usinage. Le contrôle qualité et dimensionnel des produits fabriqués. Le système Atos est monté sur un simple trépied. Aucune autre mécanique telle que MMT, robot ou unité de translation n'est nécessaire. La tête de mesure est simplement déplacée autour de la pièce pour couvrir les différents points de vue nécessaires. Lors de la mesure, un réseau de franges est projeté sur la pièce, et les images sont mémorisées grâce à 2 caméras numériques. Le résultat de chaque mesure est un nuage de 4 millions de points de coordonnées (x, y, z). Chaque vue est ensuite automatiquement assemblée aux précédentes à l'aide de quelques vignettes collées sur la pièce et servant de points de références.
TRITOP
TRITOP
Mesure de coordonnées par photogrammétrie. Contrôler la géométrie d'un objet. Comparer le modèle mesuré à la définition numérique. Mesurer les déformations subies par un objet. Créer une maquette numérique. Précision [mm] : de 0,001 à 0,1 selon la taille de l'objet - 1/120.000 de la pièce. La flexibilité du système de mesure Tritop, sa rapidité d'intervention et son faible coût le rendent extrêmement compétitif par rapport aux machines à mesurer tridimensionnels classiques et aux théodolites ou tracker lasers.
i-Dex f
i-Dex f
Système pour les mesures tri-dimensionnelles de pièces cylindriques, il incorpore des capteurs uniques
RayDex et StraDex qui permettent la prise de mesure sans-contact des espaces internes et la géométrie externes des pièces.

•Échelle de diamètre interne : 1.2 mm – 80 mm
•Longueur de l’objet : jusqu'à 200 mm
•Vitesse axiale d’inspection : 10 mm/s
•Répétitivité de la mesure d’épaisseur: 200 nm
i-Dex P
i-Dex P
Système de mesure sans contact de la plénitude , la concentricité et la rugosité de surface jusqu’a
Rz = 0.5 micron

•Capteur : StraDex p/f
•Diamètre Max. : 220 mm
•Vitese Max : 50 mm/s
•Répétitivité : 200 nm
i-Dex R
i-Dex R
Système pour les mesures tri-dimensionnelles de pièces cylindriques, il incorpore des capteurs uniques
RayDex et StraDex qui permettent la prise de mesure sans-contact des espaces internes et la géométrie externes des pièces pour extraire les paramètres tels que diamètre, concentricité, ovalité et rugosité.

•Capteur : RayDex , StraDex p
•Diamètre interne mesuré: 0.9 – 54 mm
•Profondeur des espace internes mesurée : jusqu'à 48mm
•Répétitivité : 200 nm
i-Dex t
i-Dex t
Système pour les mesures tri-dimensionnelles de pièces cylindriques, il incorpore des capteurs uniques
RayDex et StraDex qui permettent la prise de mesure sans-contact des espaces internes et la géométrie externes des pièces pour extraire les paramètres tels que diamètre, concentricité, ovalité et rugosité.

•Capteur : RayDex, StraDex f
•Échelle de diamètre interne : 1.2 mm – 80 mm dans 4 échelles
•Profondeur Max. interne : 50 mm / 200 mm
•Vitesse axiale : 10 mm/s
•Répétitivité : 200 nm
RayDex ca,cr,hr
RayDex ca,cr,hr
Cette tête de détection possède 3 axes mécaniques de haute précision (autofocus, rotation, axial). Cela permet une mesure tridimensionnelle sans contact directe, rapide et précise. Permet d’extraire les paramètres tels que diamètre, concentricité, ovalité et rugosité.

•Diamètre interne mesurée: 0.9 - 54 mm
•Distance de focalisation: 0.2 à 7.5 mm
•Répétitivité : 200 nm sur la mesure
•Répétitivité sur la rotation: 0.001 deg
Gage-Chek
Gage-Chek
Le Gage-Chek est un afficheur multiaxe de métrologie qui accepte jusqu’à 8 entrées discrètes. Il comporte des visualisations intuitives, des sélections audio utiles et des formules définies par l'utilisateur. Il rapporte également les mesures dynamiques des Min/Max, fournit des analyses SPC provenant d’une base de données intégrée et permet des connexions à un PC et à d’autres périphériques.
Quadra-Chek
Quadra-Chek
Le Quadra-Chek est une interface qui incorpore les meilleurs outils et conventions d'annotation des produits Quadra-Chek précédents, ce qui réduit le temps de formation des opérateurs. Les outils rapides et familiers améliorent la production et augmentent les uniformités de mesure pour tout le procédé de mesure.
iNEXIV-VMA-2520
iNEXIV-VMA-2520
Système de mesure multi-capteurs, compact et prix économique, assez léger pour son
utilisation en production. Rapide et complètement automatisé, il permet des prises de mesure de haute précision dans de variétés d’application Aéronautiques, Auto motives, Médicales , Optiques, Microélectroniques et autres. Il intègre un logiciel d’imagerie des plus avancé et complémenté de mesure par contacte ou par capteur laser facilitant le profilage 3D.

•X x Y x Z : 250 x 200 x 200mm
•Résolution de lecture : 0.1μm
•Poids supporté : 15 Kg
•Caméra : 1/3 in. 3CCD couleur
•Illumination a lumière blanche :
•Distance de travail : 73.5mm (63mm avec LAF)
MM-200
MM-200
Microscope de métrologie compact conçu pour les besoins d’inspection dans différent domaine notamment les pièces machinées, les composantes électronique ainsi que différents domaines nécessitant la prise de mesure de très haute précision.

•Visionnement moyennant un binoculaire ou sortie vidéo
•Source de lumière blanche
•Traitement numérique utilisant camera DS-2Mv et logiciel de métrologie E-Max
•Précision : 2.5 + L/50 μm (L étant la longueur de mesure)
MM-400/800 Serie
MM-400/800 Serie
Microscope de métrologie intégrant les nouvelles innovations dans le domaine de traitement d’image. Il permet des prises de mesure contrôlée numériquement afin d’atteindre des résultats d’une très grande précision.

•Unité de contrôle très maniable avec interface PC
•Table de translation jusqu’à 300 x 200 mm de mouvement
•Logiciel de métrologie E-MAX pour le traitement numérique des mesures
•Contrôle numérique de l’éclairage améliorant la reproductivité dimensionnelle
•Un Laser TTL optionnel permet l’ajustement focal avec une reproductivité de 0.5 μm
NEVIX VMR-10080
NEVIX VMR-10080
Une station de mesure automatique sans contact très large, 1000 x 800 x 150mm pouvant accommoder pour inspection de grande pièces telles que panneaux, LCD, feuille etc. Outillée avec de puissants optiques, un système d’auto focalisation et un éclairage très performant.

•Précision Z : (3 + L/50) μm
•Hauteur Max d’échantillon : 135mm
•Lecture Min : 0.1 μm
•Poids Max d’échantillon : 40 kg
NEVIX VMR-12072
NEVIX VMR-12072
Système de mesure offrant la plus grande plateforme de la série NEXIV 1200 x 720 x 150 mm pouvant accommoder de très grande pièces . Intègre une illumination diacopique très puissante, une auto focalisation laser ultra précise et des fonctions de recherche très poussées. Plusieurs choix d’optiques sont offerts.
NEVIX VMR-1515
NEVIX VMR-1515
Système de mesure automatique sans contact de petite taille, économique, intégrant un laser pour les fins de profilage. Sa plateforme 150 x 150 x 150 mm de translation conçue pour la mesure de petites pièces avec une grande vitesse et une haute précision.

•Lecture Min : 0.1 μm
•Poids Max d’échantillon : 20 kg
•Précision U1x U1y : 1.5 + 4L/1000 μm
•Axe Z : (1.5 + L/150) μm
•Hauteur Max d’échantillon : 150 mm
NEXIV CONFOCAL
NEXIV CONFOCAL
Système de mesure confocal conçu pour les besoins de métrologie complexe offrant une excellente précision sur l’axe Z indépendante de la nature des surfaces mesurées. Idéal pour les applications dans les semi-conducteurs, les microlentilles, les MEMS, panneaux, moulure et autres.

•Précision de lecture : 0.1μm
•Mouvement : 300 x 400 x 150 mm
•Précision de mesure : 1.5 + 4L/1000 μm
•Autofocus : 0.5 μm de précision
•Logiciel : Automesure incorporant lecture CAD
NEXIV VMR-3020
NEXIV VMR-3020
Système de mesure 3 D pour usage générale avec une plateforme de travaille de 300 x 200 x 150 mm. Idéal pour la mesure sur les pièces mécaniques, les pièces moulées, estampées et autres. Muni d’un système d’illumination LED à 8-segments, et un système d’auto focalisation laser ultra précis. Il est disponible avec 4 différentes configurations d’optique.

•Lecture Min : 0.1 μm
•Poids Max d’échantillon : 20 kg
•Précision U1x U1y : 1.5 + 4L/1000 μm
•Axe Z : (1.5 + L/150) μm
•Hauteur Max d’échantillon : 150 mm
NEXIV VMR-6555
NEXIV VMR-6555
Système de mesure automatique sans contact avec une grande table de translation
650 x 550 mm conçu pour de grands échantillons et les inspections de masse en milieu de production. Disponible avec différents optiques de focalisation et de magnification pour couvrir un large éventail de champs de vision et de résolution.

•Lecture Min : 0.1 μm
•Poids Max d’échantillon : 30 kg
•Précision U1x U1y : 1.5 + 4L/1000 μm
•Axe Z : (1.5 + L/150) μm
•Hauteur Max d’échantillon : 150 mm
NEXIV VMR-H3030
NEXIV VMR-H3030
Système de mesure vidéo automatique le précis de Nikon, offre une résolution de lecture de 0.01 μm , une table de translation de 300 x 300 x 150 mm, et un profilage laser combiné avec un système intelligent de détection de forme. Outil exceptionnel quand la précision des mesures est essentielle.

•Dotée des optiques les plus avancées de Nikon
•Précision de mesure : U1XY standard; U2XY (0.9 + L/300) μm ; U1XY (0.6 + L/300) μm
•Hauteur Max. d’échantillon : 150 mm
•Précision axe Z : (0.8 + L/150) μm
Banc REFLET
Banc REFLET
Banc optique de caractérisation de rétrodiffusion destiné à la spectrométrie et à la réflectrométrie.

Table de Translation
Nom Description Compagnie
Stage for Measuring Systems
Stage for Measuring Systems
Tables de translation compatibles avec les microscopes de mesure Nikon ainsi que les comparateurs optiques, Ils sont disponibles sous différentes dimensions pouvant accommoder des besoins variés de type de mesure. Robuste incorporant un sillon de précision en forme de V garantissant une platitude optimale et une translation en douceur.
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C
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C
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lineInterface
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D
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linerégulateur de débit
D
éplacement - Mesure
D
étecteur
D
étecteur de gaz
D
ifférentielle de
linePression
D
uromètre -
lineApareillage d'essais
D
ynamomètre
E
ncodeur
F
ibre Optique
G
allerie Video
G
énie civil
G
oniophotomètre
H
umidité - Point de
lineRosée
I
nclinomètre -
lineOrientation
I
ndicateur
I
ntensité Lumineuse
I
nterface Opérateur
I
onisation et Charge
lineStatique
L
aser - Mesure
L
ogiciels
L
VDT
M
achines d'Essaie
M
anomètre Digital
M
arquage au laser
M
esure 3D
Analyse de forme
Analyse de mouvement 2D-3D
Analyse de surface
Deplacement - Mesure
Logiciel
Mesure 3D Métrologie
Table de Translation
M
étrologie
M
icroscope
M
icroscope Digital
N
on classe
N
iveau
P
esage
P
hotoéléctrique
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oint de rosée
P
ositionnement
P
ression - Capteur
P
rofilomètre
P
roximité
R
éseaux
R
ugosimètre
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ervo-Moteur
S
onomètre
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oudure - Capteur
S
pectrocolorimètre
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élémétrie
T
empérature
T
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ibration
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ision - Caméra
V
itesse